Automatische Testsysteme dienen nicht nur der Sicherung und Verbesserung der Fertigungsqualität – im Vergleich zu manuellen Prüfungen stehen sie vor allem für Zeitersparnis und damit verbundene Kostenvorteile. Gerade bei doppelseitig bestückten Baugruppen können durch eine parallele Inspektion der Baugruppenober- und Unterseite die Prüf- und Handlingszeiten nochmals signifikant gesenkt werden. Vor diesem Hintergrund hat Schneider & Koch sein AOI-System LaserVision CompactTWIN entwickelt. Durch die Integration eines zweiten Testkopfes in das System können doppelseitig bestückte Baugruppen zeitgleich von oben und unten geprüft werden. Die zeitintensive Wendung und zweimalige Prüfung ein und derselben Baugruppe entfällt somit. Das System erfüllt alle typischen Inspektionsaufgaben wie Lötstellenkontrolle, Kurzschlusstests, Schriften- und Barcodeerkennung, Prüfung von Bestückungswinkeln sowie Prüfung von Anwesenheit, Lage und Polarität von THT- und SMD-Bauteilen. Farbkameras mit Megapixel-Technologie und telezentrischem Objektiv gestatten Aufnahmen in diversen Auflösungen. Es können Bauteile mit einer beidseitigen Bestückhöhe von bis zu 45 mm inspiziert werden. Das AOI ist modular aufgebaut und kann je nach Anforderung als einseitiges oder doppelseitiges System genutzt werden. Zusätzlich besteht die Möglichkeit, 3-D-Prüfungen durch die Integration eines zusätzlichen Schrägblick-Moduls durchzuführen. Die ausgereifte Systemsoftware zeichnet sich vor allem durch die einfache und schnelle Prüfprogrammerstellung sowie die übersichtliche Darstellung der Prüfergebnisse aus.
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