Die automatische optische Inspektion (AOI) ist dabei dem elektrischen In-Circuit-Test als gebräuchliches Testverfahren in der Elektronikfertigung den Rang abzulaufen. Allerdings stellen gerade die engen Pinabstände bei der Fine-Pitch-Technik die AOI-Systeme vor große Herausforderungen, bei denen sich die Qualität zeigt. Ein potentieller Neuanwender hat aber kaum die Gelegenheit, im Falle einer anstehenden Investition oder auch zur allgemeinen Information, realistische Vergleiche mit Maschinen verschiedener Anbieter durchzuführen.
Die Auswahl eines optimalen AOI-Systems hat jedoch direk-te Auswirkungen auf die Ausbeute und die Qualität des Fertigungsprozesses, denn die Ge-räte müssen eine sehr hohe Feh-lerabdeckung aufweisen, um möglichst alle Fehler aufzuspüren. Die mit ihnen gewonnenen Daten können zudem zur Optimierung des Produktionsprozesses in die Fertigung rückgekoppelt werden.
Um dem Bedürfnis nach einer praktikablen Vergleichsmöglichkeit nachzukommen, or-ganisieren die Fachzeitschriften EPP und EPP Europe, bei-de aus der Konradin Verlagsgruppe, Leinfelden, auf der diesjährigen Productronica, die vom 6. bis 9. November auf dem Gelände der Neuen Messe in München stattfinden wird, eine EPP BENCHMARK-ARE-NA mit AOI-Systemen. Der Benchmark-Test konzentriert sich auf die in Europa verfügbaren, in-Line-fähigen Post-Reflow-Systeme. Von Seiten der AOI-Hersteller werden sich namhafte Anbieter, darunter weltmarktführende Unternehmen, an dem EPP Benchmark-Test beteiligen. Als Prüfling wird eine für die Evaluierung geeignete gemischt bestück-te Baugruppe eingesetzt. Als Prüfkriterien werden die richtige Bestückung, die Qualität der Lötstellen und die Polari-tät der Bauteile auf der Baugruppe herangezogen. Eine fachliche Beratung ist durch unabhängige externe Fachleu-te sichergestellt.
Die Benchmark-Arena wird auf dem 300 m² großen Stand der Zeitschriften EPP und EPP Europe eingerichtet. Die AOI-Systeme werden den Prüfling dreimal täglich inspizieren. Zwischen den Inspektionszyk-len besteht für interessierte Besucher die Möglichkeit zu ei-nem intensiven Dialog und Gedankenaustausch mit den anwesenden Technikern der einzelnen Hersteller.
Die Ergebnisse des Benchmarktests werden in Kurzform aktuell während der Messe dargestellt. Nach der Messe wird eine detaillierte Bericht mit allen Ergebnissen des AOI-Benchmark-Tests veröffentlicht. (Pa)
EPP 153
Unsere Webinar-Empfehlung
Auch dieses Jahr präsentiert Koh Young wieder aktuelle Trends und „State of the Art“ Technologie aus der optischen Inspektion und 3D-Messung auf der Productronica in München. Aber wir alle kennen das Problem voller Terminkalender, Reisebeschränkungen oder fehlender Zeit, um in…
Teilen: