Keithley Instrumenst erweitert das Halbleiter-Charakterisierungssystem des Modells 4200-SCS mit der Möglichkeit zur Generierung und Messung von Impulsen, so dass es sich für die DC-Bauteilcharakterisierung, Echtzeit-Aufzeichnung oder Analysen mit Sub-Femtoampere-Auflösung im Labor eignet. Das System beinhaltet einen Embedded PC mit dem Betriebssystem Windows XP. Es hat eine Impulsgenerierung mit Rückmessung sowie eine zum Patent angemeldete Software. Erforderliche Verbindungskabel zum Testobjekt im System sind enthalten, Messaufbauten oder Verdrahtungen sind überflüssig. Das vollständig integrierte und kompakte PIV-System, das optional erhältlich ist, ermöglicht Messungen an thermisch empfindlichen Bauteilen. Es basiert auf einer zweikanaligen Impulsgeneratorkarte, die zwei unabhängige Kanäle mit einem Frequenzbereich von 1 Hz bis 50 MHz beinhaltet. Die Impulsfunktion lässt sich in das Modell 4200-SCS integrieren, und ermöglicht dadurch genaue DC- und Impulsmessungen mit einer einzigen Messlösung und der unternehmenseigenen Halbleiter-Testsoftware KTEI. Es wurde speziell für den Einsatz in der Halbleiter-Technologieentwicklung, Produktentwicklung oder auch für Zuverlässigkeitslabore entwickelt. Kurze Einlernzeiten sowie höhere Produktivität durch kombinierte Stichprobentests mit intuitiver und einfach einsetzbarer Software lassen Tests und Charakterisierungen schneller durchführen.
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