Temento Systems und der deutsche Distributor TECS Prüftechnik GmbH haben die DiaTem Software Version 3.0 erstmals auf der Embedded World 2008 in Nürnberg vorgestellt. Temento Systems ist ein führender Anbieter von JTAG basierten Desktop Testsystemen, die auf der Standard Programmiersprache TCL beruhen. Diese Funktion bietet die Möglichkeit, den Test sofort und ohne Kompilierung durchzuführen. Zudem soll sie, so der Hersteller, einen beispiellosen Return-on-Invest sichern. Mit der Software adressiert das Unternehmen den Produktionsmarkt mit neuen Features wie zum Beispiel virtuelle Komponenten und Unterstützung einer unbegrenzten Anzahl an Variationen der Baugruppe. Damit können sowohl verschiedene Versionen als auch unterschiedliche Bestückungsvarianten mit nur einem Testprogramm verifiziert werden. Des weiteren erlaubt die neue Datenbasis eine Unterstützung mehrerer Scanketten unterschiedlicher Versorgungsspannungen, die durch einen Mausklick zusammengeschaltet werden können. Damit hat man sofort Zugriff auf eine Vielzahl an Operationen, ohne dass eine langwierige Kompilierung notwendig ist.
Die Software hat eine erweiterte grafische Oberfläche, die einen breiten Einsatz ermöglicht, angefangen von der Entwicklung über die Prototyp-Phase bis hin zur Produktion und Reparatur. Mit DiaTem 3.0 wird eine grafische Eingabemöglichkeit für Testabläufe inklusive Verzweigungen bereitgestellt, die den Test in der Produktion vereinfacht. Dieser Boundary Scan Test unterstützt automatisch unterschiedliche Versionen und Bestückungsvarianten. Die verwendeten Bibliotheken werden in den kommenden Monaten kontinuierlich erweitert. DiaTem Version 3.0 ist verfügbar für Windows XP & 2000. Mit der Software stellt das Unternehmen ein JTAG/Boundary Scan Tool mit leichter Benutzbarkeit bekannter Software Tools zur Verfügung.
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