Für eine größtmögliche Fehlererkennung bei der automatischen Röntgeninspektion (AXI) bestückter Leiterplatten sind kleine Bildausschnitte mit Mikrometerauflösung, 360° Rotation, bis zu 70° Schrägdurchstrahlung, höchste Anfahrgenauigkeit von wenigen Mikrometern sowie zuverlässiger Wiederholbarkeit unbedingt notwendig. Doch bei der konventionellen inline-AXI wird die Inspektionstiefe normalerweise von der Durchsatzrate der SMT-Linie bestimmt. Bei einem hohen Mix an kleinen Serien kann ein offline eingesetztes hochauflösendes µAXI-System, wie es phoenix|x-ray von GE Sensing & Inspection Technologies bietet, die bessere Wahl sein. Seine x|act-Technologie für eine einfache und intuitive CAD-basierte µAXI bietet sehr hohe Vergrößerung und daher vergleichsweise geringer Schlupf- und Pseudofehlerrate. Um die Programmierzeit zu minimieren, importiert x|act die CAD-Daten der bestückten Leiterplatte und erstellt daraus ein Modell, das einerseits als Übersichtskarte zur einfachen Navigation dient, andererseits eine Zuweisung von Prüfstrategien für die einzelnen zu inspizierenden Bauteile ermöglicht.
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