Wer die Verbindungen auf einer Leiterplatte testen will, auf denen sich lediglich Bausteine mit JTAG-Schnittstelle befinden und über ein geeignetes Test-Tool verfügt, hat keine Probleme. Man schreibt Testmuster in die entsprechenden Scan-Zellen und schaut nach, ob an den korrespondierenden Anschlüssen das gleiche Ergebnis ansteht. Ein professionelles Testsystem wie etwa der XJAnalyzer von XJTAG macht das vollkommen automatisch. Der Nutzer muss nur die passenden BSDL-Dateien zur Verfügung stellen. Leider ist das ein seltener Ausnahmefall.
gsh-Systemelectronic GmbH, München
In der Praxis befinden sich passive Bauelemente und ICs ohne JTAG-Schnittstelle auf dem Board, die bei einer reinen JTAG-Nutzung die Testabdeckung drastisch senken würden. Aus diesem Grund kommen bei den Boundary Scan Werkzeugen (XJEase) des britischen Unternehmens XJTAG drei Ansätze zum Tragen, mit denen die Anzahl der getesteten Pfade praktisch auf 100 Prozent erhöht werden kann.
1. Integration von Funktionstests:
In der Programmiersprache von XJEase lassen sich Funktionstests erstellen, mit denen man beispielsweise die Funktion eines Speicherbausteins prüfen kann. Häufig findet man einen Controller mit JTAG-Schnittstelle, der mit einem Speicher ohne JTAG verbunden ist. Wenn man nun Testmuster an den Datenbus legt und die entsprechenden Leitungen im Controller über die JTAG-Schnittstelle setzt, kann man den Speicher beschreiben und zurück lesen. Mit den passenden Testmustern lässt sich sicherstellen, dass weder Kurzschlüsse noch Potenzial-Verbindungen aufgetreten sind. Auf diesem Weg lassen sich zum Beispiel auch Ethernet-Pakete senden und empfangen, ohne dass der Prozessor überhaupt gebootet werden muss.
2. Device Orientierung:
Auch wenn das Design sich häufig ändert, die verwendeten Bausteine sind doch oft dieselben. Normalerweise wird bei jedem Test ein vollkommen neues Testscript fällig. XJEase verwendet einen bausteinorientierten Ansatz. Die Testfunktionalität wird dabei in einem Device-file beschrieben. Im Falle des Speicherbausteins würde der Funktionstest nicht im Test-Script sondern im Device-file des Speichers definiert. Dadurch lässt sich diese Datei immer wieder unverändert einsetzen, egal wo und wie oft der Baustein im Design vorkommt. Dadurch wird die Integration von Nicht-JTAG-Komponenten erheblich vereinfacht. Für viele Bausteine gibt es fertige Device-files von XJTAG.
3. Das I/O-Board:
Die dritte Möglichkeit ist die Integration von zusätzlicher JTAG-Funktionalität. Dazu stellt die britische Firma ein I/O-Board zur Verfügung, das in die JTAG-Chain integriert wird. In der Basisausführung kann der Nutzer bis zu 208 digitale Signale und jeweils 8 A/D- bzw. D/A-Kanäle nutzen. Da das Board über zwei vollständige JTAG-Schnittstellen verfügt, lassen sich beliebig viele I/O-Boards hintereinander schalten, falls weitere Signale benötigt werden. So können sogar Chip-Temperaturen mittels Sensoren über den A/D-Wandler in die JTAG-Schnittstelle eingelesen und ausgewertet werden. Das Unternehmen bietet mit den Tools XJAnalyzer, XJEase und XJRunner eine komplette Suite für den Test von elektronischen Systemen von der Entwicklung bis hin zur Produktion.
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