Keithley Instruments hat das neue Halbleiter-Charakterisierungssystem Model 4200-SCS mit integrierter Software KTEI 5.0 (Keithley Test Environment-Interactive) vorgestellt. Das Modell bietet dem Anwender nicht nur die Möglichkeit für eine Halbleiter-Charakterisierung, sondern auch für Stress- und Zuverlässigkeitstest zur Analyse der Bauteillebensdauer und zur Qualitätssicherung. Die Software ist auch einzeln als Upgrade verfügbar. Mittels einer einfachen Maussteuerung sind Strom/Spannungsmessungen an Bauteilen mit bis zu acht unabhängigen Kanälen möglich, Messungen, die entscheidend in der Materialforschung, Modellierung, Entwicklung und Produktion von zahlreichen Halbleitern und anderen Bauteilen sind. Die Software lässt sich in Windows NT und XP-Umgebungen einsetzen und bietet umfassende Funktionen für die Testdefinition, Parameteranalyse, grafische Darstellung und Automatisierung für die Halbleiter-Charakterisierung und für Zuverlässigkeitstests. Sie kann in alle vorhandenen Systeme der Modelle 4200-SCS installiert werden, ohne dass Daten verloren gehen und ohne dass Änderungen der Hardware oder der Netzverbindungen erforderlich sind.
EPP 447
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