Der MVP-Fixierrahmen zur Leiterplattenaufnahme von KIC eignet sich für die Überwachung von Veränderungen in Reflowöfen und um herauszufinden, wie diese sich auf das Profil des Fertigungsboards auswirken. Die Vorrichtung ist vollständig kompatibel zu den Profiler-Linien SlimKIC 2000 und KIC Explorer. Elektronikbestückungs-Dienstleister können jetzt den MVP-Steckrahmen mit integrierten Technologien zur virtuellen Profilierung einsetzen. Embedded-Sensor-Technologien kommen zum Einsatz, welche das Profil einer einzelnen Platine genau vermessen, ohne dass die echte Leiterplatte über den ersten Programmlauf hinaus benötigt wird. Das System zeigt, auf welche Weise die in der Ofenumgebung beobachteten Veränderungen sich auf das Temperaturprofil des Produktionsboards auswirken. Änderungen werden in einem Profil-Graphen dargestellt, gemeinsam mit einer einzelnen Kennzahl, die anzeigt, ob das Profil innerhalb der Spezifikationen liegt. Stellt das System eine Situation außerhalb der Spezifikationen fest, informiert die Software den Techniker, wie der Ofen anzupassen ist, um den Prozess in die Spezifikation zurückzuführen und die Produktion rasch wieder aufzunehmen.
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