Advantest hat das Flashmemory-Testsystem T5771 vorgestellt, das mit seiner Fähigkeit zum gleichzeitigen Prüfen von bis zu 128 Speicherbausteinen die achtfache Kapazität seines Vorgängermodells erreicht. Es unterstützt Tests mit bis zu 100 MHz bei einer Gesamtgenauigkeit von w 0,5 ns und ist in der Lage, defekte Blöcke einzeln zu prüfen und zu maskieren. Außerdem beinhaltet das System verbesserte Flash-Match-Schaltungen, die den Programmieraufwand gegenüber dem Vorgängermodell um die Hälfte verringern, durch den Einsatz hochintegrierter ASICs und Multichip-Module kann es auf die Fläche umgerechnet gleichzeitig die vierfache Bauteilanzahl testen. Die Evaluierungs-, Analyse- und Debugging-Software Future-Suite besitzt eine grafische Benutzeroberfläche und die Prüfprogramme wurden so vereinfacht, dass der Anwender die Programme für den gleichzeitigen Test mehrerer Chips auf die gleiche Weise schreiben kann wie vorher für nur einen Baustein. Da die Prüfprogramme in C geschrieben werden, kann das System nach Herstellerangaben reibungslos an Netzwerke angeschlossen werden.
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