Für das Charakterisie-ren von Laser-Dioden in Chip-/Zeilenform oder in fertigen Modulen wur-de das Pulsed-Laser-Dio-de-Test-System 2520 von Keithley entwickelt. Es ermöglicht das Testen dieser Bauelemente im Impulsmodus mit einem Strom von bis zu 5 A. Dabei ermöglicht es eine Impulsbreite von 500 ns mit Anstiegs- und Abfallzeiten von weniger als 60 ns, wobei die Laser-Diode vor Kurzschluss am Ausgang und hinsicht-lich dem Einhalten bestimm-ter Spannungswerte geschützt wird. Das Instrument, das mit den Schnittstellen IEEE-488 und RS-232 geliefert wird, erlaubt einen vollständigen LIV-Test (Lichtintensität, Strom und Spannung) ohne zusätzliche Konverter, Oszilloskope oder Software. In das Gerät ist ein 14-Bit-A/D-Wandler integriert, der ein genaues Bestimmen des Schwellenstroms , der L-I-Effizienz und der I-V-Linearität erlaubt. Für Testanwendungen für Laser-Dioden mit Lab-Windows/CVI oder Lab-View können entsprech-ende Instrumententreiber von der Internet-Seite des Herstellers heruntergeladen werden. Auf Wunsch sind Demoprogramme mit Lab-View, Lab-Windows/CVI und Visual-Basic kostenlos erhältlich.
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