Als Highlights auf der diesjährigen SMT in Nürnberg präsentiert die Produktlinie phoenix|x-ray von GE Inspection Technologies ihre leistungsstarken mikro- und nanofokus Röntgeninspektionssysteme microme|x und nanome|x. Mit ihrem Live-Overlay der Inspektionsergebnisse und CAD-Padinformationen bieten sie eine besonders schnelle und einfache Identifizierung defekter Lötstellen. Der dynamische DXR Detektor mit seiner Bildrate von bis zu 30fps (frames per second) erlaubt eine rauscharme und gestochen scharfe Bildqualität und zugleich CT-Scans elektronischer Bauteile in nur 10 Sekunden.
Fachbesucher der SMT Hybrid Packaging können lichkeit, sich die Röntgeninspektionssysteme live auch anhand mitgebrachter eigener Proben vorführen zu lassen. Beide Systeme verfügen standardmäßig über eine offene nanofokus bzw. mikrofokus Röntgenröhre mit 180kV maximaler Röhrenspannung und 15 bzw. 20W maximaler Leistung, die eine Detailerkennbarkeit von bis zu 200 Nanometer beim nanome|x und bis zu 0,5 Mikrometer beim microme|x ermöglicht. Neben der manuellen oder vollautomatischen 2D Lötstelleninspektion sind die Röntgensysteme der Produktlinie auch hervorragend für 3D-Analysen von Bauteilen mittels Computertomographie geeignet.
SMT Hybrid Packaging
Stand 7-425
Unsere Webinar-Empfehlung
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Die 3D-Messung und Inspektion des Lotpastendrucks ist ein wichtiges Qualitätswerkzeug. Dieses funktioniert nur mit den richtigen Toleranzen und Eingriffsgrenzen.
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