Microtec hat eine neue Generation von Modulen zur Beschleunigung von Halbleitertest-Systemen entwickelt, die MUX-Systeme. Damit stehen nun Compact-Module zur Verfügung, die es auch ATE-Anwendern ermöglichen, einzelne Pins zu beschleunigen. Die neuen Module können auf dem Loadboard eingesetzt werden und sind nicht an das Testsystem eines bestimmten Herstellers gebunden. Mit den Modulen ist eine Geschwindigkeitssteigerung des Testsystems um den Faktor 4 möglich. Das System verfügt über ein Multichip-Modul mit Multiplexer oder Multiplexer/Demultiplexer und erreicht eine Geschwindigkeit bis 2,6 Gb/s oder 5,2 Gb/s. Die Raise/Fall-Time beträgt 80 ps. Weiter enthalten sind Mikroprozessorsteuerung, integrierte Temperaturüberwachung, integriertes Reclocking und Taktgenerierung. Zusätzlich wird ATE-Anwendern eine eigenständige Software angeboten, womit der Anwender die Möglichkeit hat, sein vorhandenes Testequipment länger und effizienter zu nutzen, und somit Kosten zu sparen.
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