Highspeed-Röntgen in der SMT-Fertigung

Das Röntgeninspektionssystem X2 von MatriX Technologies basiert auf der Highspeed-Transmission-Röntgentechnik und ist mit einer 3D- Slice-Filter-Technik für die doppelseitige Baugruppenprüfung in der SMT-Fertigung ausgestattet. Es ist für eine 100%ige Lötstellen- und Komponentenprüfung von elektronischen Flachbaugruppen ausgelegt, die spezifizierte Inspektionsgeschwindigkeit von mehr als 30 cm² in der Sekunde garantiert eine Prüfabdeckung von bis zu 10 000 Lötstellen in der Minute. Der Röntgenteil ist mit einer geschlossenen 130-KV-Röhre mit einem Mikrofokus bis zu 5 µ ausgestattet und weist für die Röhrensteuerung Stabilität und schnelle Umschaltzeiten auf. Beim Detektor kommt ein dualer Bildwandler mit einer High-Speed-CCD-Kamera zum Einsatz, die flexible und minimale Belichtungszeiten durch automatische Blendensteuerung und Real-Time-Bildaufbereitung garantiert. Der X/Y-Tisch verfügt über Highspeed-Linearantriebe, realisiert Positionierzeiten bis zu 100 ms und sitzt auf einem speziellen Mineralgussrahmen, der die Schwingungen bei hohen Beschleunigungen absorbiert. Für das Be- und Entladen ist das System mit einem Liftmechanismus ausgestattet, der auch als Röntgen-Shutter fungiert. Eine integrierte Operator-Bedienkonsole rundet das ergonomische Design ab. Die Inspektionssoftware MIPS_Inspect Plattform basiert auf Windows XP und greift bei der Abarbeitung der Prüfalgorithmen auf eine Halcon-Bildverarbeitungsbibliothek zurück. Ein grafisches Tuning-Interface mit intelligenter Auswertesoftware für die Inspektionskriterien verkürzt die Programmierzeiten und erhöht das Auffinden echter Fehler bei gleichzeitiger Verringerung der Pseudofehlerrate. Die Inspektionsergebnisse werden direkt an eine Fehlerdatenbank übergeben, die über die X-Verify-Station jederzeit abgerufen werden können. Das Verifikationskonzept auf MIPS-Basis verbindet die Röntgenfehlerbilder mit der genauen CAD-Layoutposition und verfügt über einen 3D-Viewer. Die Inspektionsergebnisse aus der Pasteninspektion sowie ergänzende AOI-Ergebnisse können in X-Verify eingebunden werden.

EPP 439