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Hoher Durchsatz bei verbesserter Qualität

Highspeed AOI-Inspektion für die Elektronikfertigung
Hoher Durchsatz bei verbesserter Qualität

Hoher Durchsatz bei verbesserter Qualität
Die AOI Systeme der FX-Serie prüft und kontrolliert mit 5 Kameras
Yestech Europa stellte das neue Nordson Yestech „Highspeed FX SL Automatische Optische Inspektion (AOI) System vor, eine Weiterentwicklung der bewährten FX-Serie. Es verfügt über eine dreimal schnellere Bilderfassung, welche die Inspektionsgeschwindigkeit deutlich erhöht. Diese Geschwindigkeitserhöhung steht sowohl im „On the Fly“ als auch im Start-Stop Modus zur Verfügung. In Kombination mit den gewohnten Funktionalitäten aus der bestehenden FX-Serie ist dieses AOI System sehr attraktiv.

ANS, Limeshain & Yestech Europe, Hampshire (UK)

Die 12micron Farbkamera (alternativ 8microns oder 25microns) gewährleistet mit hochentwickelter Bild-Verarbeitungstechnologie eine äußerst schnelle Leiterkarten-Inspektion als auch eine außergewöhnliche Fehlerabdeckung. Mit einer orthogonalen Kamera und vier seitlich angeordneten Kameras, kontrolliert die FX-Serie Lötstellen und prüft auf die Richtigkeit der Bauteilbestückung so dass die Anwender die Prozessqualität verbessern und den Produktionsdurchsatz erhöhen können.
Fortschrittliche Technologien
Das FX SL verfügt über Yestech‘s Dual-Inspektions-Technologie, so dass der Anwender flexibel sowohl den Bildvergleichs- als auch die Algorithmen-basierte Inspektionstechnik kombiniert in einem einzigen Programm nutzen kann. Der Bildvergleich basiert auf dem Aufbau einer Referenz-Bilddatenbank von „akzeptablen (OK)“ als auch von „nicht akzeptablen (NG)“ Bildbeispielen. Das System nutzt die in der Datenbank gespeicherten Bilder, um diese mit den zu inspizierenden Leiterkarten zu vergleichen. Zur farblichen Abhebung von sowohl Bauteilen als auch Lötstellen von ihrer Umgebung und zur Identifizierung verwendet die Algorithmen-basierte Inspektion neben Regeln und Messungen ebenso Kontrastmechanismen. Dies ermöglicht die Darstellung der Bauteile und Lötstellen in hellen sowie dunklen Graustufen oder Farb-Mustern. So können selbst bei weißem Lötstopplack auch die weißen LED‘s sehr deutlich hervorgehoben werden.
Zur Höhenvermessung steht eine Lasereinheit zur Verfügung. Mit diesem Laser können Co-Planaritätsprüfungen an BGAs durchgeführt werden. Bei gleichmäßig aufgeschmolzenen, also verschmolzenem, Lot, ergibt sich eine planare Oberfläche an den zu messenden Objekten, wie beispielsweise dem eines BGAs. Diese Messmethodik lässt sich auch auf andere Bauteile wie zum Beispiel Stecker übertragen.
Ein Allrounder seiner Klasse
Grundsätzlich lassen sich mit den AOI Systemen des Unternehmens sämtliche Bauteile, Formen bzw. Geometrien inspizieren. So reicht das zu prüfende Bauteilspektrum vom 01005 Chip über QFPs, Stecker und BGAs bis hin zu THT-Bauteilen. Bei einer THT-Bestückung können Bauteile bis zu einer Höhe von 50mm getestet werden. Das Prüfen und Erkennen von Farbringen auf bedrahteten Widerständen ist eindeutig. Die Inspektion von wellengelöteten Lötstellen mit der RGB-Beleuchtung erlaubt eine exakte Auswertung darüber, ob Zinn an den durchgesteckten Pins ausreichend hochgezogen ist und somit eine einwandfreie Benetzung stattgefunden hat.
Die Möglichkeit zur Nutzung beider Inspektions-Methoden (Bildvergleichs- und Algorithmen-basierte Inspektion) bietet deutliche Vorteile für die unterschiedlichen Produktionsanforderungen. In Highmix-Situationen mit begrenzten Stückzahlen kann der Anwender von der Bildvergleichs-Methode profitieren, da die Programmerstellung und Systemeinrichtung sehr schnell erfolgt. Alternativ bietet die Algorithmus-basierte Inspektion eine umfassende und genaue Parameter-Steuerung für die Großserienproduktion. Bei der FX-SL wurden Genauigkeit und Geschwindigkeit durch genauere X-/Y-Achsen deutlich erhöht. Programmerstellungszeiten für Kunden mit mehreren Systemen wurden durch die Nutzung von Bibliotheken sowie dem Transfer von Inspektionsprogrammen zu anderen Systemen deutlich reduziert.
Inlinetauglich für alle Fälle
Das AOI System bietet neben dem hohen Durchsatz eine sehr schnelle Programmerstellung, sodass die Einbindung in Highspeed-Produktionslinien gewährleistet ist. Mittels der vorhandenen Offline-Software kann nach einmaligem Aufnehmen der Leiterkarte die komplette Programmierung auch offline durchgeführt werden. Das Ergebnis sind die sehr geringen Stillstandzeiten der Systeme für eine notwendige Programmierung.
Auch ist die Integration des Systems in jede Produktionsumgebung denkbar einfach, da dem Anwender eine intuitiv geprägte Software in deutscher Sprache zur Verfügung steht. Darüber hinaus garantieren ein umfassendes Data-Collecting von SPC-Daten sowie Daten aus bildbasierten Reports Echtzeit-Transparenz und die Optimierung des Fertigungsprozesses. Durch das Lesen von Barcodes und 2D-Codes der Top-Kamera können die ermittelten Daten und Fehler mit der Leiterkarte verknüpft, und mit der Unternehmenseigenen Software Traceability-Daten generieren werden. Mittels OCR-Erkennung sind die Chargen-Nummern von BGAs oder QFPs lesbar und können ebenfalls in die SPC-Datenbank gespeichert werden. So ist nicht nur die Rückverfolgbarkeit pro Leiterkarte gesichert, sondern auch für spezielle Bauteile, welche auf den jeweiligen Leiterkarten vorhanden sind.
Alles dabei
Um keine Wünsche offen zu lassen, hat ANS für das FX SL ein Gesamtpaket mit den folgenden Optionen geschnürt:
  • 5-fach Kamerasystem
  • RGB-Beleuchtung
  • Laser-Einheit
  • Offline-Programmierung
  • Reparatur-Station
  • OCR-Erkennung
  • Barcode, 2D-Code-Erkennung
  • SPC-Auswertung
  • CAD-Konversion
  • Bibliotheken-Management
  • Real-Time Monitoring
  • Kalibrier-Tools
  • Deutsche Software-Oberfläche
  • Kostenlose Software Updates
All diese technischen Raffinessen sowie die Software Funktionen stehen auch in der Desktop-Variante zur Verfügung. Bei der BX-Serie besteht, gleich zu den Inline-Systemen, die Wahl zwischen 8microns, 12microns oder 25microns Kameraauflösung. Mit dem Desktop-System können Leiterkarten bis zu einer Größe von 460mmx510mm mit einer Bauteilhöhe von ebenfalls 50mm inspiziert werden. Die aufgeführten Optionen gehören zum Standard-Paketumfang des Desktop-Systems. Die Inspektionsprogramme zwischen Inline- und Desktop-System sind voll kompatibel. Zum weiteren Produktportfolio gehören die M1m Inspektionssysteme zum Test von Mikroelektronik wie Dies, Drähte, Epoxy, Waffle Packs u.v.m. Dies ist möglich, da die M-Series-Systeme über eine hohe Auflösung eine telezentrische Linse und seitliche Beleuchtung verfügen. Spezielle Algorithmen sind in der Lage, Drahtverbiegungen und -brüche sowie Kontaminierungen zu erkennen.
Mit den Systemen der FXUV-Serie und der BXUV-Serie wird das Produktportfolio des Vertriebspartners abgerundet. Die Systeme sind mit einem Schwarzlicht ausgestattet und erlauben somit die Inspektion von Conformal Coatings. Mit speziell ausgearbeiteten Algorithmen können hier deplatzierte Coatings ermittelt werden.
Im Applikationscenter in Limeshain/ Frankfurt a.M. stehen Systeme der FX- und BX-Serie für Demonstrationen oder Benchmarktests zur Verfügung. Gerne werden auch Produktvorführungen vor Ort durchgeführt. Dabei nutzt man die dort verwendeten Leiterkarten, um live die Vorteile der Yestech AOI Systeme demonstrieren zu können.
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