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Inspektionsfeatures verfeinert

AOI-Anwendertreffen zur Vorstellung eines neuen Software-Release
Inspektionsfeatures verfeinert

Inspektionsfeatures verfeinert
Neben Zuhören standen die praktischen Übungen am 2. Tag in hohem Kurs
Um dem Anwender mit kompletten Systemlösungen zur Seite zu stehen, liegt das Betätigungsfeld von multi components im Bestücken, Löten, Temperaturprofiler, AOI sowie Lotmaterial. Der Repräsentant verschiedener internationaler Hersteller lud in den Unternehmenssitz in Schwabach, um die neue Software des AOI-Herstellers Saki vorzustellen, und vor Ort eine Update-Schulung an AOI-Systemen bzw. Editorplätzen durchzuführen.

Die Produktpalette des Vertriebshauses umfasst Einrichtungen zur Produktion elektronischer Baugruppen für die verschiedensten Applikationen. Eine enge Zusammenarbeit mit den Partnerfirmen sowie intensive technische Beratung der Kunden durch erfahrene Mitarbeiter zählen zu den Stärken des Unternehmens. Um den Aussagen gerecht zu werden, finden Informations- und Schulungsevents statt. Mehr denn je hängt der Erfolg davon ab, wie schnell und flexibel auf Kundenbedürfnisse reagiert wird, ein Grund mehr, immer auf dem aktuellsten Stand zu sein. Als Repräsentant von Saki, einem japanischen Hersteller von AOI-Systemen, sollten deren Anwender über die neuen Inspektionsfeatures, dem vereinfachten Debugging sowie dem SPC/BF-Nettracer der neuen kostenfreien Software-Version 6.0.09B02 für die BF-Serie und -Familie intensiv informiert und geschult werden. Die Moderation und praktische Durchführung fand unter Federführung der Mitarbeiter Andreas Eichler, AOI-Applikation, sowie Lars Bartels, Produkt Manager in diesem Bereich, statt.

Inspektionsfunktionen
Die ECD(Extra Component Detection)-Funktion dient zur Wahrnehmung von überzähligen Bauteilen oder Lötzinnkugeln, die auf jedem Bereich der PCB-Oberfläche auftreten können. Dabei verwendet ECD einen statistisch vergleichenden Prozess, um abweichende Grauwertverteilungen zwischen dem PCB und vorher gelernten statistischen Grauwertverteilungen zu erkennen. Einrichten, Testdatenerhebung und schon gehts zur Inspektion. Die Parameter und der Inspektionsbereich werden gesetzt, gute Leiterplatten eingescannt und die Daten anschließend generiert. Die Kontrolle der Leiterplatte erfolgt im Auto- oder manuellem Modus, die erforderlichen Parameter eingestellt, und der Vergleich der kontrollierten Leiterplatten mit den Testdaten geht vonstatten. Werden abweichende statistische Grauwertverteilungen erkannt, erscheint die Anzeige nicht gut. Bauteile können durch Maskieren von dieser Inspektion ausgeschlossen sein. Diese Inspektionsfunktion ist schneller, mit weniger Pseudofehler, und beansprucht keine zusätzliche Zeit bei der Bildaufnahme. Als zweite im Bunde zu der bereits vorhanden OCR(Optical Charakter, Recognition)-Funktion wurde die OCV(Optical Character Verifikation)-Funktion zur Überprüfung von Bauteilbeschriftungen vorgestellt, um Fehlbestückung zu erkennen. Der bildvergleichende Algorithmus registriert jede Charakterabbildung als Schablone. Dabei können unterschiedliche Beleuchtungs-Einstellungen und Abbildungen einem Charakter zugewiesen werden, um die Wiedererkennungsrate zu erhöhen. OCV erkennt versetzte Charakter, Bauteile ohne Polarität sowie Beschriftungen mit schlechter Druckqualität. Eine Makrofunktion kontrolliert Varianten eines Bauteils mit einem Bibliothekseintrag. Die vorgestellten Inspektionsfunktionen sind in den Modellen BF-Tristar, BF-Frontier, BF-Planet-X, BF18D-P40 sowie BF-Voyager anwendbar.
Weitere Verbesserungen
Ganz oben steht hier das offline debuggen, d.[h. die Bibliothek kann im Automode des AOI-Systems editiert und aktualisiert werden. Die Inspektionsdaten fehlerhafter Bauteile werden dem BF-Editor (externer Programmierplatz) zugeschickt, editiert und an das AOI zurückgeschickt, ohne den Automode zu unterbrechen, was zu kürzeren AOI-Standzeiten führt. Das Debugging verwendet alle Bauteilabbildungen der vorherigen Inspektionen und verhindert so Schlupf. Bauteile, die dieselbe Bibliothek teilen, werden in Abhängigkeit von ihrem Inspektionsergebnis geordnet, die Ergebnisse von Änderungen an der Bibliothek mit zuvor kontrollierten Bauteilen überprüft. Als weiter zugefügte Operation ging es um die Bibliotheksbaumfunktion zur Verwaltung mit mehr Gliederungsmöglichkeit durch das Eingeben der jeweiligen Bezeichnung im Model Fenster. Es wird die Referenzabbildung jeder Bibliothek für eine übersichtlichere Zuordnung angezeigt. Nach dem Wählen des Package-Typ im Package-Dialogfenster und dem Eingeben des Modellnamens im Dialog, wird die Bibliothek angemeldet und dementsprechend klassifiziert. Durch Klick auf eine Abbildung wird der jeweilige Bibliothekseintrag ausgewählt. Dies unterstützt besonders AOI-Neuensteiger, da sich die Software automatisch aus der Bauteilbibliothek den richtigen Eintrag für ein neues Bauteil heraussucht. Eine Übersichtsfunktion der Beleuchtungs-Einstellungen ermöglicht eine leichtere Auswahl: Durch Klicken auf den Lighting-Button im Editierfenster wird eine Übersicht der jeweiligen Beleuchtungen für ein Bauteil angezeigt. Ein weiterer Klick wählt aus. Eine Übersichtsfunktion der Beleuchtung erleichtert die Wahl beim User-Define-Einstellen. Hier kann der Anwender jede der drei Beleuchtungswinkel stufenlos einstellen, falls eine der standartmässig über ein Dutzend zu Verfügung stehenden Beleuchtungen nicht die gewünschte Reflexion bringen sollte. IC-Pin-Nummern können vom Benutzer mit Wahlmöglichkeit von Pin 1 und Ausrichtung der Pin-Nummerierung zugeordnet werden. Eine modifizierte Search-Data-Funktion zeigt eine Referenzabbildung nach Auswahl des Bibliotheksnamen. Mittels Summary-Schaltfläche wird eine Zusammenfassung aller Inspektionsparameter aufgelistet. Das Window-Edit-Fenster erscheint nahe der Mauscursorposition und macht den Vorgang anwenderfreundlich. Die OK-Schaltfläche wird erst nach Klicken auf die Bauteilabbildung möglich, damit keine Fehleinschätzung entsteht, und ist im Editor- und Monitormode verfügbar. Neben den kompletten Informationen zum neuen Software-Release konnten sich die Teilnehmer an den installierten Editorplätzen über die neuen Funktionen einen Eindruck verschaffen. (dj)
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