Kostenfreies Praxisseminar: „Vom Sensor zum Prüfbericht“

National Instruments veranstaltet ab dem 31. Januar 2012 das Praxisseminar „Vom Sensor zum Prüfbericht“ in Deutschland, Österreich und der Schweiz. In dem kostenfreien Seminar wird gezeigt, wie Anwender mithilfe von Hard- und Softwareprodukten von NI Mess- und Prüfsysteme erstellen können, die sich durch eine hohe Flexibilität und Anpassbarkeit auszeichnen. Das Praxisseminar stellt dar, wie Benutzer auf Basis der modularen und softwaredefinierten PXI-Plattform Prüfsysteme mit höherem Durchsatz und verbesserter Flexibilität zu geringen Gesamtkosten erstellen können. Des Weiteren werden die Softwareprodukte DIAdem und TestStand des Unternehmens vorgestellt, die es ermöglichen, Messdaten strukturiert auszuwerten und zu verwalten sowie intuitive Testabläufe und Prüfberichte zu erstellen.

Außerdem wird die grafische Entwicklungsumgebung NI LabVIEW näher beleuchtet. Mit ihr lassen sich beliebige Messgeräte über unterschiedliche Schnittstellen an einen PC anbinden. Die Teilnehmer erfahren mehr über softwarebasierte computergestützte Messtechnik und die so genannten Virtuellen Instrumente. Durch sie lassen sich unter anderem flexible softwarebasierte Funktionalität, ein hoher Datendurchsatz und eine unkomplizierte Hardwareanbindung realisieren.

Den Seminarteilnehmern wird zudem vermittelt, weshalb sich LabVIEW optimal als Plattform für alle Anwendungen eignet – von der Gerätesteuerung, Datenerfassung und Digitalsignalverarbeitung über die Analyse und Benutzeroberflächenerstellung bis hin zur Implementierung von verteilten und echtzeitbasierten Mess- und Automatisierungssystemen.

Die Teilnahme am Praxisseminar ist kostenlos. Alle Teilnehmer erhalten zusätzlich ein umfassendes Handbuch mit detaillierten Informationen. Anmeldemöglichkeiten, aktuelle Informationen, die ausführliche Agenda sowie alle Termine und Veranstaltungsorte finden sich unter