Messkarte reduziert Testzeiten für In-Circuit- und Funktions-Tests

CheckSum präsentiert auf der SMT in Nürnberg am Stand 7A-421 seine neueste Messkarte V12, jüngste Elektronik-Entwicklung zur Steuerung und Testdurchführung der Palette an In-Circuit- und Funktions-Test-Systemen. Die Spezialisten des Unternehmens werden am Messestand die Technologie der Messkarte V12 in In-Circuit- und Funktions-Test-Systemen vorführen und erläutern. Besonders niedrige Stimuli-Spannungen bieten höchste Sicherheit für Prüflinge. ICs und andere empfindliche Bauteile können getestet werden, ohne dass die Betriebsspannung angelegt werden müsste, wodurch eine potenzielle Schädigung der Komponenten beim In-Circuit-Test sicher vermieden wird. Die Fähigkeit der Karte, Testzeiten zu reduzieren, steigert beim Anwender die Effizienz der Testprozesse. Die Steuerungs-, Sicherheits- und Zuverlässigkeitseigenschaften machen die Karte in Verbindung mit erhöhtem Produktionsdurchsatz zu einem Schlüsselelement moderner In-Circuit-Testtechnologie.

Der CheckSum Analyst ils Tester weist alle Eigenschaften des Analyst ems Systems auf, um verschiedenste Arten von Baugruppen testen zu können. Darüber hinaus besitzt er ein Leiterplatten-Handhabungssystem für den Einsatz in automatisierten Produktions- und Testlinien. Analyst ils verbindet den Test auf Fertigungsfehler mit der TestJet-Technologie, um beim In-Circuit-Test von Einzelleiterplatten oder Nutzen bei kürzester Testzeit eine maximale Fehlerabdeckung zu erzielen. Mit regelmäßiger Stichprobenprüfung von Prüflingen aus der Fertigungslinie, automatischer Rekontaktierung der Testnadeln und/oder Testwiederholungen im Fehlerfall genügt Analyst ils auch ausgefeilten Testanforderungen. Der Tester führt effiziente Tests an ausgeschalteten analogen oder digitalen Baugruppen in THT- und SMT-Technologie durch und erkennt Fertigungsfehler wie falsche, fehlende oder verpolte Bauteile, sowie Unterbrechungen und Kurzschlüsse. Mit Hilfe der standardmäßig verfügbaren TestJet-Technologie spürt der Tester Unterbrechungen in und an den meisten analogen und digitalen integrierten Schaltungen auf. Diese Fehlerarten sind für die meisten Probleme moderner Elektronik-Fertigungen verantwortlich.

Die optionalen Funktionstest-Möglichkeiten für Prüflinge unter Spannung eignen sich ideal für niederfrequente analoge Baugruppen mit einem untergeordneten Anteil digitaler Schaltungen. Der Analyst ils testet die gesamte Baugruppe und einzelne Bauteile, ohne dass der Prüfling mit Spannung versorgt werden müsste. Ausgefeilte Messtechniken wie DC-Messungen oder Messungen komplexer Impedanzen (Z-Messungnen) in Verbindung mit Mehrpunkt-Guarding ermöglichen dem System, schnell und präzise Durchgangsprüfungen und Messung von Kondensatoren, Widerständen, Induktivitäten durchzuführen und Spannungen, insbesondere Halbleiter-Schwellenspannungen zu erfassen und SMT-Verbindungen auf Unterbrechungen zu prüfen. Das System erkennt die meisten Fehler, während sich der Prüfling in einem sicheren, weil ausgeschalteten Zustand befindet. Spezifische Meldungen zur Fehlerdiagnose ermöglichen eine schnelle Reparatur der Prüflinge.