Göpel electronic hat im Rahmen des GATE-Programms in Kooperation mit der Firma TAP ein Software-Tool entwickelt, das unter System Cascon generierte Testvektoren in ausführbare Testpattern des SPEA 3030 Incircuit Testers (ICT) wandelt. Dieses Verfahren setzt sowohl die seriellen Vektoren des JTAG-Busses wie auch die parallelen I/O Vektoren auf die Pin-Elektronik des Boardtestsystems um. Die Nutzung der Testkanäle der Tester in den Boundary Scan Prüfungsanteilen resultiert in einer signifikant höheren Prüfabdeckung und noch effektiveren Fehlerlokalisation. Hierbei berücksichtigt das Tool die Systemkonfiguration des SPEA 3030 und erzeugt die erforderlichen Dateien, Ablaufstrukturen und Inhalte des Testplans. Die Ausführung der Testpattern erfolgt durch einen von TAP entwickelten OBP-Treiber (On-Board Programming). Response-Vektoren von fehlerhaften Prüfdurchläufen werden wiederum in System Cascon auswertbare Formate gewandelt, so dass die volle Fehlerdiagnose in der Boundary Scan Software erfolgen kann.
„Damit ermöglicht sich ein einfacher JTAG/Boundary Scan Einstieg auf den SPEA ICT ohne Einbau zusätzlicher Hardware“, erklärt Alexander Beck, Experte für die Boundary Scan Integration in ATE-Systeme bei Göpel electronic. „Auch bereits bestehende Projekte lassen sich somit schnell und ohne Aufwand in Bezug auf ihre Boundary Scan-Fähigkeit in ICT-Adaptersysteme untersuchen.“ Hinrich Tietjen, Geschäftsführer von TAP, ergänzt: „Den Einsatzschwerpunkt dieser Integration sehen wir im Produktionsbereich mit Boundary Scan Prüfungsinhalten, z.B. Infrastrukturtest, Interconnectiontest, Clustertest, manuell erstellte Boundary Scan Prüfungsanteile, sowie dem Memory Access Tests.“ Das Software-Tool sowie Unterstützung bei der Generierung von Boundary Scan und ICT Prüfungsanteilen und dem Transfer von Projekten, ist über die Firma TAP erhältlich. Mit den leistungsfähigen Scanflex Hardware-Komponenten ist die volle Boundary Scan Funktionalität im SPEA 3030 Testsystem bereits seit Jahren erfolgreich im Einsatz.
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