Die In-Line-Inspek-tionssysteme KS50 und KS100 von Cyberoptics kontrollieren bestückte Leiterplatten unmittelbar nach der Reflow-Anlage. Die Geräte basieren nicht auf Bildverarbeitungs-Algorithmen sondern benutzen Statistical Ap-pearance Modelling (SAM). Dabei werden Beispiele mit korrekt verarbeiteten Bauteilen in das Sys-tem eingelernt. Über die Software wird dann definiert, wie weit das Teil variie-ren kann. Damit wer-den natürliche Veränderungen während des Prozesses berücksichtigt und eine aufwendige Programmierung sowie entsprechendes Fein-Tuning bei sich ändernden Prozessparametern entfällt. DieTechnik senkt die Pseudofehlerrate unter 50 ppm beim KS100 bzw. unter 100 ppm beim KS50. KS50 ist ein preisgünstiges AOI-System mit ei-ner einfachen Mechanik. Auf eine Verfahreinheit und eine Klemmung für das Board wird verzichtet, das einzige sich bewegende Teil ist das Transportband. KS100 verfügt zudem über Stereo Vision für eine 3D-Messung der Baugruppe. Unebenheiten werden mathematisch entfernt.
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