Zerstörungsfrei und berührungslos bestimmt man Dicke und Zusammensetzung von Beschichtungen mit dem Röntgenfluoreszenz-Messgerät Fischerscope X-RAY XDVM-P. Anwendung findet das Gerät z.B. in Massengalvanikbetrieben mit hohem Teiledurchsatz oder zur Kontrolle von High-Tech-Leiterplatten mit filigraner Oberfläche, die eine besonders präzise Positionierung des Messfleckes erfordern. Der Anwender legt das zu messende Teil ohne weitere Vorbereitungen auf den XY(Z)-Messtisch. Mit hoher Geschwindigkeit fährt dieser von der Lade- in die Messposition. Rascher Teilewechsel ist eine besondere Stärke dieses Gerätes. Auf seinem Monitor hat der Anwender das Farbvideobild der Messstelle genau im Blick, gezoomt sogar bis zu 180-fach vergrößert. Mit einem Joystick positioniert er den primären Röntgenstrahl exakt auf den Messpunkt – auf weniger als 5 µm genau. Das Vollschutz-Gehäuse des Messkopfes verhindert, dass Strahlen austreten. Deswegen ist beim Betreiber auch kein Strahlenschutzbeauftragter erforderlich. Wechselbare Kollimatoren können den Messstrahl so fein bündeln, dass kleinste Messfleck-größen ab 0,3 x 0,07 mm Querschnitt möglich sind – ideal zur Positionierung z.B. auf schmalen Leiterbahnen, Kontaktbändern oder Lötpads. Fischerscope-X-RAY Messgeräte sind so konstruiert, dass die Video-Draufsicht auf die Messstelle in exakt senkrechter Perspektive erfolgt. Der Anwender kann aus diesem Grund die Abläufe der Messung sicher und komfortabel kontrollieren. Programmierte Messabläufe sind ebenfalls möglich. Vorteilhaft wenden diese Eigenschaft zum Beispiel Hersteller von Leiterplatten an, die auf sehr feinen Oberflächenstrukturen messen. In Sekundenschnelle liegt das Messergebnis vor. Messtechniker schätzen an der Mess- und Steuersoftware WinFTM V.6 besonders die große, praxisgerechte Funktionsvielfalt, Ergebnisgenauigkeit und einfache Bedienung, auch was die weitere Auswertung der Messergebnisse betrifft. Gespeicherte Protokollvordrucke können gewählt werden, sodass ein komplettes Messprotokoll inklusive Videobild und eigenem Firmenlogo ausgedruckt werden kann. WinFTM V.6 Basic kann bis zu 24 einzelne Kennwerte einer Probe bezüglich Schichtdicke und Elementkonzentration bei einer Messung gleichzeitig bestimmen. Sehr dünne Schichten bis hinab in den 10-nm-Bereich sind messbar. Die Messgenauigkeit kann durch die Verwendung von bis zu 64 Kalibriernormalen pro Applikation auf ein Maximum erhöht werden. Für „rückführbare“ Messergebnisse kann der Messgerätehersteller eine Vielzahl Kalibriernormale mit DKD-Kalibrierurkunde gemäß DIN EN ISO/IEC 17025 liefern.
Productronica: A2.237
epp 507
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