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Puls-Störfestigkeitsuntersuchungen von Baugruppen

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Puls-Störfestigkeitsuntersuchungen von Baugruppen

Puls-Störfestigkeitsuntersuchungen von Baugruppen
Die Analyse der HF-Quellen erfolgt nach einer Strategie in 4 Messschritten. Hier dargestellt ist Messchritt 2: das gezielte Einstören mit der Magnetfeldquelle BS 04 DB und die gleichzeitige Signalüberwachung über LWL mit dem Sensor S31 am Impulsdichtezähler des SGZ 21
Das Entwicklungssystem Störfestigkeit (E1) von Langer EMV-Technik ist ein ausgereiftes Werkzeug für Elektronikentwickler mit dem praktische Puls-Störfestigkeitsuntersuchungen (Burst/ESD) von Baugruppen durchgeführt werden können. Das E1 ist auf die Entwicklungsbegleitung zugeschnitten. Der Entwickler kann damit an seinem Arbeitsplatz Geräte/Baugruppen entstören oder weiter härten, indem er die direkten Ursachen von Störfestigkeitsproblemen aufklären und Gegenmaßnahmen in ihrer Wirkung direkt testen kann.

Die Störfestigkeitsuntersuchung einer Baugruppe nach der Norm IEC 61000–4–4 und IEC 61000–4–2 ist ein vorteilhafter Ausgangspunkt für die Härtung des Prüflings mit dem System. Die während der Prüfung nach Norm vom Standard-Burstgenerator erzeugten Störgrößen werden auf die Zuleitungen des Prüflings eingekoppelt und fließen über Masse zum Generator zurück. Dabei fließen die pulsförmigen Störgrößen auf unbekannten Wegen durch die Gerätebaugruppe. Im Gerät trifft ein unbekannter Anteil dieser Störgrößen auf eine unbekannte Störsenke und generiert einen Funktionsfehler. Der Entwickler weiß nicht, ob und wo der Störstrom mit seinem Magnetfeld in einer Leiterzugschleife einen Spannungsimpuls induziert oder elektrisches Feld kapazitiv in empfindliche Leitungen einkoppelt. Aus dem im Normtest auftretenden Fehlerbild lässt sich nicht ablesen, wo genau die Schwachstelle im Prüfling ist. Das entscheidende Ergebnis beim nicht bestandenen Test nach Norm ist die genaue Kenntnis des aufgetretenen Fehlerbildes. Anschließend erfolgt die Ursachenforschung mit dem E1 am Arbeitsplatz des Entwicklers, wobei die Funktionsfehler aus dem Fehlerbild die Orientierung für die Entstörung vorgeben. Entscheidend für das Lokalisieren von EMV-Schwachstellen ist die selektive Einspeisung von Störstrom in einzelne Abschnitte eines Prüflings (Störstromwege) und das Beaufschlagen ausgewählter Gebiete der Baugruppenoberfläche mit elektrischem (E-Feld) oder magnetischen (H-Feld) Pulsfeldern. Gleichzeitig kann während der Beaufschlagung mit Pulsstörungen eine rückwirkungsfreie Signalüberwachung mittels LWL durchgeführt werden.
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