Die Markteinführung einer Reihe von PXI-Messgeräten für die Messung von Signalen mit einer Abtastrate von bis zu 100 MS/s gibt National Instruments bekannt. Diese Geräte erhöhen die Flexibilität und Systemleistung zur Erfassung von Mixed-Analog/Digital-Signalen beim Rapid-Prototyping sowie beim Testen von Geräten und Systemen. Diese Serie von Messmodulen, die in Bezug auf Frequenz und Leistung aufeinander abgestimmt sind, enthält vier neue, auf der selben Hardware-Architektur basierende, Messgeräte. Zu dieser Serie gehören neue Digitalsignalgeneratoren/-analysatoren für Signale von bis zu 100 MS/s bzw. 50 MHz, ein neuer Arbiträrsignalgenerator mit einer Auflösung von 16 Bit und einer Abtastrate von 100 MS/s, ein neuer hochauflösender Digitalisierer mit einer Auflösung von 14 Bit und einer Abtastrate von 100 MS/s, ein Takt- und Frequenzgenerator mit einer Bandbreite von 100 MS/s, ein Schaltmodul mit einer Bandbreite von 500 MHz und das neue Timing- und Synchronisationsmodul. Mit hilfe dieser Module erhält man eine hohe Systemflexibilität, da man die Messaufgaben mit Analyseroutinen in der grafischen Entwicklungsumgebung LabView 7 Express und mit dem neuen interaktiven Digital-Waveform-Editor definieren kann.
EPP 468
Unsere Webinar-Empfehlung
10.10.22 | 10:00 Uhr | Conformal Coating ist ein wichtiges Verfahren, um elektronische Baugruppen vor dem vorzeitigen Ausfall zu schützen. Damit bekommt der Beschichtungsprozess eine immer höhere Bedeutung. Dabei ist die Auftragsstärke ein wichtiges Qualitätskriterium. Nur eine…
Teilen:
