Advantest stellt den dynamischen Test-Handler M6241 speziell für Speicherbausteine wie DDR2/3-SDRAM vor, der einen parallelen Test mit maximal 512 Bauteilen ermöglicht. Das ergibt einen Durchsatz von bis zu 20 000 Komponenten in der Stunde. Verbesserte Handling- und Kontaktiermechanismen bringen einen effizienten Bauteiltransfer. In Kombination mit dem Memory-Testsystem T5588 des Unternehmens lässt sich der Durchsatz nach Herstellerangaben nahezu verdoppeln, wobei nicht mehr Platz als beim Vorgängermodell gebraucht wird. Durch ein integriertes Thermokonzept wird weniger Zeit zur Erreichung der Zieltemperatur benötigt, und es regelt auch die Temperaturunterschiede zwischen den Testobjekten, was eine Verbesserung der Temperaturstabilität mit sich bringt. Optional lässt sich der Layout-Pitch für unterschiedliche Load-Board-Designs anpassen, interessant für Anwendungen mit verschiedenen Bauteildesigns. Im Hinblick auf die Modularität enthält das Gerät einen Pitch-Conversion-Kit-Mechanismus, der die Testeffizienz erhöht und mehr Flexibilität bringt.
EPP 464
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