Röntgenfluoreszenz-Messsysteme für die Leiterplattenindustrie

Auf Basis der bewähren Gerätereihen Fischerscope X-RAY XULM, XDLM und XDV-µ hat Fischer neue Röntgenfluoreszenz-Messsysteme speziell für die Anforderungen des Leiterplattenmarktes entwickelt. Im Fokus dieser Entwicklungen standen vor allem das bessere Handling großer, flexibler Leiterplatten (610x530mm), die hohe Präzision und Genauigkeit der Messergebnisse und eine zuverlässige Messtechnik mit großer Langzeitstabilität. Mit den neuen Messsystemen, der leistungsstarken Auswertesoftware WinFTM und speziell für die Leiterplattenindustrie hergestellten zertifizierten Referenzstandards werden all diese Kriterien erfüllt. Als Einstiegsgerät dient das von unten nach oben messende Fischerscope X-RAY XULM-PCB mit Proportionalzählrohr-Detektor, Mikrofokus-Röntgenröhre, festem Primärfilter und fester Blende. Es ist mit einer fixen Probenauflagefläche von 800x600mm ausgestattet und auf 1.200x630mm erweiterbar. Die zu messenden Proben lassen sich schnell und einfach von Hand positionieren. Die genaue Messstelle kann per Videobild überwacht werden. Die Geräte Fischerscope X-RAY XDLM-PCB 200 und 210 verfügen ebenfalls über eine Mikrofokus-Röntgenröhre mit festem Primärfilter und fester Blende. Bei diesen von oben nach unten messenden Proportionalzählrohr-Geräten vereinfacht ein Laserpointer die genaue Positionierung der Leiterplatte. Sie sind mit fester Probenauflage von 600x600mm, erweiterbar auf 1200x900mm ausgerüstet. Alternativ steht ein programmierbarer XY-Tisch mit 450x300mm Verfahrweg zur Verfügung, womit die Geräte auch für die automatisierte Serienprüfungen einsetzbar sind. Das High-end Röntgenfluoreszenzgerät Fischerscope X-RAY XDV-µ mit innovativer Polykapillar-Röntgenoptik und großflächigem Silizium-Drift-Detektor gibt es jetzt mit einer 610x530mm großen Auflageplatte für den programmierbaren XY-Tisch. Damit können dank des extrem kleinen Messflecks speziell Leiterplatten mit kleinsten Strukturen präzise gemessen werden. Zudem verfügt dieses Gerät über eine sehr hohe Anregungsintensität und daher über eine extrem gute Wiederholpräzision auch bei dünnsten Schichten im Nanometerbereich. Die Messunsicherheit liegt dabei unter 1nm. Durch die hochauflösende Videooptik mit verschiedenen Vergrößerungsfaktoren ist eine sichere Probenpositionierung und gestochen scharfe Darstellung selbst kleinster Messstellen möglich. Mit diesen neuen Röntgenfluoreszenz-Messsystemen speziell für die Leiterplattenindustrie greift das Unternehmen die Anforderungen dieser Branche gezielt auf und bietet Lösungen für eine optimale Qualitätskontrolle und Prozesssteuerung der Beschichtungsprozesse.