Der Kombites-ter CT250M vonDr. Eschke Elek-tronik bietet 250 MS/s für alle Digitalkanäle, 1 GS/s analog und 1824 x 4 Scanner-Kanäle. Er eignet sich mit max. 640 digitalen Kanälen 2 MSteps Testvektoren und variablen Signalpegeln für dynamische Funktionstests an komplexen Baugruppen. Bidirektionale Digitalmodule ermöglichen Analogmessungen an DUT-Pins (Test per Pin, Pegel, Leakage, Lasten). Die Precision-Measurement-Unit (PMU) hat zwei Analog-Mess-einheiten, vier Quadrantenquellen, einen Arbitrary-Generator, ein Scope-Modul und zwei Guarding-Verstärker. Aus-serdem sind DUT-Stromversorgungen und Lastmodule PSL3 für 0 bis 5,5 V/11 A und 0 bis 52 V/1,5 A elektronische Lasten und Stromquellen verfügbar. Die Ausgänge dieser Module sind potentialfrei und für größere Ströme und Spannungen kaskadierbar. Die Tes-ter sind in Kombination mit dem Funktionstest oder ausschließlich als Manufacturing-Defect-Analyser (MDA) einsetzbar.
EPP 211
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