Keithley Instruments hat zwei mehrkanalige Source-Measure-Testkarten als Erweiterung des Multi-Channel I-V Testsystems 4500 MTS vorgestellt. Das Testsystem lässt sich für automatische Tests in Produktionstest-Umgebungen mit mehreren Testheads (Multi-DUT) einsetzen, wie Stress- und Lebensdauertests oder Bauteil-Charakterisierung. Die Testkarten 4510- und 4511-QIVC (Quad I-V Card) verfügen jeweils über vier Source-Measure-Kanäle, so dass sich mit allen neun Steckplätzen des Grundsystems Lösungen mit 36 I-V-Messkanälen realisieren lassen. Jeder Kanal der beiden Karten enthält einen Subkanal mit einer Stromquelle und einem 5½-stelligem AD-Wandler, um die Reaktion des Testobjekts auf die Stimuli zu messen. Die Testkarten haben drei Ausgangsbereiche mit ±30, ±100 und ±500 mA beim Modell 4510 bzw. ±100, ±300 und ±1000 mA beim Typ 4511. Jedes Board ist mit einem Mikrocontroller mit Echtzeit-Betriebssystem und integriertem Messwert-Speicher ausgestattet, so dass Testsequenzen autonom abgearbeitet oder über den Trigger-Bus zu den Aktivitäten anderer Karten der 4500-Serie synchronisiert werden können. Jeder Unterkanal hat mechanische Relais, die den Ausgang der Messschaltung vom Testobjekt isolieren können, wodurch ein Multiplexing zwischen den Subkanälen der Strom- und der Spannungsquelle ermöglicht wird.
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