Test von Leistungshalbleitern

Keithley Instruments, Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, erweitert mit dem High Power System-SourceMeter Instrument Modell 2651A seine Produktfamilie der Serie 2600A. Das neue Modell wurde speziell für die Charakterisierung von Leistungselektronik entwickelt und zeichnet sich durch den derzeit größten verfügbaren Strombereich aus. Dieser ist entscheidend für verschiedene Anwendungen in der Forschung und Entwicklung sowie für Zuverlässigkeits- und Produktionstests von high brightness LEDs, Leistungshalbleiter, DC-DC-Wandler, Batterien und andere Materialien, Komponenten, Module und Baugruppen für hohe Leistungen. Wie alle Geräte der Serie zeichnet sich auch dieses durch eine flexible Vierquadranten-Spannungs- und Stromquelle/Last mit hochgenauen Volt- und Amperemetern aus. Es kombiniert die Funktionalität von mehreren Instrumenten in einem einzigen kompakten Gerät: Halbleiter-Charakterisierungssystem, Präzisionsstromversorgung, Stromquelle, DMM, Arbitrary Waveform Generator, U- und I-Impulsgenerator, elektronische Last und Trigger-Controller. Mit Hilfe der TSP-Link-Technologie des Unternehmens lässt es sich zudem problemlos auf ein voll synchronisiertes mehrkanaliges System erweitern. Im Gegensatz zu anderen Lösungen, die normalerweise über eine eingeschränkte Leistungsfähigkeit, Messgeschwindigkeit und/oder Auflösung verfügen, kann das Modell 2651A als Quelle oder Senke eine Impulsleistung von bis zu 2.000 W oder eine DC-Leistung von bis zu 200 W liefern. Darüber hinaus sind genaue Messungen bis hinab zu 1 pA und 100 Mikrovolt mit einer Geschwindigkeit von bis zu einer Messung pro Mikrosekunde möglich. Das Modell unterstützt digitalisierende und integrierende Messungen und kann dadurch für eine genaue Charakterisierung sowohl kurzzeitige Ereignisse, als auch ein konstantes Verhalten abdecken. Je zwei unabhängige A/D-Wandler stehen für jeden der beiden Modi zur Verfügung, einer für Strom und der andere für Spannung. Somit ist gleichzeitig ein genaues Rücklesen der Quellen möglich, ohne dass der Testdurchsatz eingeschränkt wird. Schnelle Impulse verhindern eine Bauteil-Eigenerwärmung während des Tests. Leistungsfähige Testskript-Entwicklungs-Tools sind bereits im Instrument enthalten, so dass keine zusätzliche Softwareinstallation oder Programmierung erforderlich ist. TSP Express liefert die zu ermittelnden Bauteildaten für grundlegende, aber auch komplexe Tests in nur drei einfachen Schritten: anschließen, konfigurieren und erfassen. Es vereinfacht auch den Anschluss der Instrumente, so dass sich höhere Impulspegel erhalten lassen. Die Ergebnisse können entweder in graphischer oder tabellarischer Form dargestellt und dann in eine Datei zur Verwendung in einer Tabellenkalkulation exportiert werden. Darüber hinaus sind zwei weitere leistungsfähige Softwarewerkzeuge für die Erstellung von Testsequenzen erhältlich.