Advantest präsentiert seine Testsysteme der Serie T6500für den Produktionstest von MCUs, ASICs und Systems-on Chip (SoC) für große Stückzahlen. Diese für das sogenannte untere Marktsegment entwickelte Testerreihe ermöglicht Datenraten von 30, 60 oder 125 MHz und kann mittels einer standardmäßig enthaltenen Pin-Multiplex-Funktion auf 125, 250oder 500 MHz erweitert werden. Die sowohl im Entwicklungs- als auchim Produktionsprozess einsetzbare Testerreihe kommt mit einem Drittel der Grundfläche und der Hälfte des Energieverbrauchs ihres technologischen Vorgängers aus. Alle Systeme können außerdem auf den Funktionsumfang des T6573 erweitert werden, was esden Chipherstellern ermöglicht, auch zukünftige, schnellere Bausteine zu testen. Durch die Verwendung einer einzigen Plattform werden die Durchlaufzeiten reduziert. Die mit dem Betriebssystem der High-end-Geräte T6682 und T6672 ausgestatteten Tester setzen die Testsoftware Viewpoint, die die Prüfung unterschiedlicher Bauteiltypen wie zum Beispiel MPUs, ASICs, PC-Peripherie, digitale Signalprozessoren und MCUs erlaubt, ein und ermöglichen so die geimeinsame Nutzung von Testsoftware und Performance-Boards auf allen Systemen.
EPP 197
Unsere Webinar-Empfehlung
Conformal Coating ist ein wichtiges Verfahren, um elektronische Baugruppen vor dem vorzeitigen Ausfall zu schützen. Damit bekommt der Beschichtungsprozess eine immer höhere Bedeutung. Dabei ist die Auftragsstärke ein wichtiges Qualitätskriterium. Nur eine zeitnahe schnelle Messung…
Teilen: