Die neue Compact Linie von Seica vereinigt den Erfolg der Incircuit- und Funktionstestsysteme des Unternehmens, die den Anforderungen der sog. „lean production“ entsprechen, mit einer spezifischen Berücksichtigung der Produktionsanforderungen von elektronischen Baugruppen. Sie ist ergonomisch durchdacht und technologisch anspruchsvoll, bietet höchste Flexibilität, hohe Messgenauigkeit und Testgeschwindigkeit, in einem schmalen Gehäuse mit kleiner Standfläche sowie geringer Leistungsaufnahme und entspricht damit allen heutigen Anforderungen an zuverlässigen Produkten. Das Compact TK ist die kleinste Konfiguration und generell für den ICT und On-Board Programming Applikationen empfohlen. Es ist im hohen Maße durch gute ergonomische Eigenschaften, kleine Standfläche und leichte Wartbarkeit sowie geringe Leistungsaufnahme und verbesserte Bedienersicherheit charakterisiert.
Eigenschaften:
- kleine „stand-alone“ Lösung auf Rädern
- Parallel Test Option bis zu 4 Jobs
- bis zu 1.536 analoge Kanäle
- bis zu 128 hybride Kanäle (max. 10 MHz digital)
- Openfix vektorlose Testoption
- bis zu 3 Benutzernetzteile
- Funktionstest-Erweiterbarkeit
- On Board Programming Eigenschaften
- Boundary Scan Test Option
- Pneumatische/Vacuum Prüfadapteraufnahme inklusive
- Kabinet voll integriert mit PC und Prüfadapteraufnahme
- 230V, 500W, Druckluft notwendig.
Das Pilot V8 Flying Probe System ist eine innovative Technologie, welche ein Maximum an Leistung in Bezug auf Testgeschwindigkeit, Testabdeckung und Flexibilität besitzt. Die vertikale Architektur des Systems ist die optimale Lösung zum Antasten des Prüflings (UUT), auf beiden Seiten gleichzeitig. Diese Eigenschaft garantiert eine schnelle, präzise, zuverlässige und wiederholbare Kontaktierung; sie erlaubt auch die volle Verfügbarkeit aller mobilen Ressourcen zum Testen des Prüflings. Das System ist mit 8 elektrischen Flying Test Probes ausgestattet (4 auf jeder Seite), 2 Openfix Probes (1 auf jeder Seite) und 2 CCD Kameras (1 auf jeder Seite) und 2 Power Probes (1 auf jeder Seite), also insgesamt 14 mobile Ressourcen um einen Prüfling zu Testen. Die mobilen Power Probes ermöglichen es, den Prüfling ohne zusätzliche Kabel mit Spannung zu versorgen und sehr einfach Funktionstests zu implementieren. Die Testwerkzeuge und Techniken der Pilot V8 umfassen:
- Fnode Signaturanalyse an den Netzen des UUT
- Standard analoger und digitaler Incircuit Test
- Vektorlose Tests (JSCAN und Openfix),um ICs nach Opens und Shorts zu testen
- Pwmon Netzanalyse für Prüflinge mit Versorgungsspannung
- Durchgangstest zum Detektieren offener Leitungen auf der Leiterplatte
- Visuelle Tests für Komponenten Presence/Absence und Rotation
- Optionale Funktionstests und Boundary Scan Testfähigkeiten
- On Board Programming Werkzeuge für digitale Komponenten
- Optionale Thermal Scan Ressourcen
Electronica, Stand A1.459
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