TestWay Express gehört zur Familie der Testcoverage-Analysetools von Aster Technologies. Mit dem neuen Werkzeug werden die Anwender in die Lage versetzt, eine unabhängige Testabdeckungs-Analyse ihrer Leiterplattendesigns zu berechnen und die durch eine Kombination verschiedenster Tester erreichte Testabdeckung zu messen. TestWay Express beruht auf dem firmeneigenen Design-for-Test- und Testabdeckungs-Analysewerkzeug TestWay. Unter Verwendung dieses Analysemoduls versetzt TestWay Express den Anwender in die Lage, die gesamte Testabdeckung, die entweder durch ein einzelnes Testsystem oder eine Kombination verschiedener Systeme erzielt wird, zu berechnen und zu messen.
Die Konfiguration erfolgt durch Drag-and-Drop Auswahl aus der Test-Equipment-Liste. TestWay Express analysiert die Anzahl der bei jeder Teststufe innerhalb der gesamten Kette erkannten Fehler und identifiziert so Lücken in der Testabdeckung mit den zugehörigen unerkannten Fehlern.
QuadView-TPQR ist ein weiteres Mitglied dieser Testcoverage-Analyse Tools und ermöglicht es, die durch ein einzelnes Testsystem erzielte Testabdeckung zu berechnen. Das Tool baut auf der Analysesoftware QuadView auf. Mit Hilfe dieses Layout- und Schaltplan-Viewers kann die Testabdeckung für ein beliebiges Test- oder Inspektionssystem sowohl auf Bauteil- als auch auf Anschlussebene visualisiert werden. Auf Basis des Imports des Prüfprogramms oder des Coverage Reports des Testers analysiert QuadView-TPQR die Daten und berechnet die Testabdeckung, so dass detaillierte Ergebnisse als Bericht ausgegeben und in der Layout- sowie der Schaltplanansicht dargestellt werden können.
electronica, Stand A1.549
EPP 447
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