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Verbesserung der strukturellen Testtiefe durch Kooperation

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Verbesserung der strukturellen Testtiefe durch Kooperation

Göpel electronic hat eine Boundary-Scan-Option für die PXI/PXIe-FlexRIO-Karten von National Instruments entwickelt. Die Lösung ermöglicht die Nutzung der FPGA-basierenden FlexRIO-Hardware als Boundary-Scan-I/O-Modul. Damit erschließen sich Anwender eine breite Palette an ergänzenden Teststrategien zur entscheidenden Verbesserung der strukturellen Testtiefe bei Prototypen oder in der Produktion. „Unsere PXI-basierenden Boundary Scan Lösungen werden bei vielen bedeutenden Unternehmen mit großem Erfolg eingesetzt. Dank der hervorragenden Zusammenarbeit mit Selex Galileo konnten wir das Projekt zur Unterstützung von FlexRIO innerhalb weniger Wochen realisieren“, freut sich Bettina Richter, Marketing Manager bei Göpel electronic. „Dabei verstehen wir derartig kundenspezifische Entwicklungsprojekte als integralen Bestandteil unseres normalen Kundensupports, welche uns auch wichtige Informationen über perspektivische Marktanforderungen vermittelt.“

„Für unsere missionskritischen Anwendungen sind Technologien wie Boundary Scan und FlexRIO von National Instruments von fundamentaler Wichtigkeit“, erklärt Antonio Cardinale, Senior Test Manager bei Selex Galileo. „Durch die erfolgreiche Kooperation mit Göpel electronic können wir jetzt unsere PXI Express FlexRIO-Module noch effektiver nutzen. Damit verfügen wir über eine hervorragende Ausgangsposition, um zukünftig strukturelle und funktionale Teststrategien noch tiefer auf einer Testplattform zu verzahnen.“
„National Instruments bietet mit den PXI- oder PXI Express-basierenden FlexRIO-Karten eine bisher nie dagewesene Flexibilität zur Realisierung unterschiedlichster Instrumente und Applikationen“, erklärt Rahman Jamal, Technical & Marketing Director Europe bei National Instruments. „Die neuentwickelte Adaption für Boundary Scan sehen wir in diesem Sinne als einen weiteren Schritt in der praktischen Umsetzung dieses Potentials.“ Die neue Boundary Scan Option beruht auf dem Einsatz eines kundenspezifischen Adapter-Moduls für die FlexRIO PXIe-7962R Karte in Kombination mit einem darauf abgestimmten Boundary Scan IP (Intellectual Property) für den Onboard-FPGA. Zur Entwicklung des Adapter-Moduls kam das FlexRIO Adapter MDK (Module Develoment Kit) zum Einsatz. Für die Integration des Boundary-Scan-IP wurde ein entsprechendes VHDL-Design als Component Level Intellectual Property (CLIP) Node kompiliert. Das gesamte Handling erfolgt durch die Software LabView FPGA von National Instruments. Zur Realisierung eigener Boundary-Scan-Adaptionen bietet Göpel electronic auch ein Hardware-Support-Package incl. VHDL-Source-Code an. Das konfigurierte Modul unterstützt sämtliche Boundary-Scan-Prozeduren wie automatischer Verbindungstest mit Pin-Fehlerdiagnose, automatischer Clustertest mit Pin-Fehlerdiagnose oder Hardware-Debugging. Als Boundary-Scan-Software kommt eine Run-Time-Version von System Cascon zum Einsatz, welche über eine API (Applikation Programming Interface) ebenfalls von LabView angesteuert wird.
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