Vollautomatische Inline-CT für Serienprüfung

Mit dem neuen Inline-Computertomografie System XCT-2000i ergänzt MatriX Technologies sein bestehendes Produktportfolio von AXI/CT-Inspektionssysteme um ein vollautomatisches High-Speed CT-System für die hundertprozentige (100%), zerstörungsfreie Teile-Inspektion in der Serienfertigung. Der Spezialist für automatische Inline-Lösungen setzt bei seinen Systemen auf Flexibilität und modularen Aufbau. Für die optimale Abstimmung auf die jeweils geforderte Inspektionsaufgabe, kann das neue CT-Inspektionssystem mit unterschiedlichen Röntgenröhren und State-of-the-Art Detektoren ausgestattet werden. Die Anlage wird vollständig in die Produktionslinie inklusive Be- und Entladeeinheiten integriert und kann problemlos an das jeweilige Prozessleit- und QS-System des Kunden angebunden werden. Eine schnelle Taktzeit von unter einer Minute inklusive Teilehandling sowie die vollautomatische Gut-Schlecht-Entscheidung und Sortierung stellen den hohen Durchsatz sicher und vermeiden Engpässe in der Fertigung. Standardmäßig dient auch bei dem neuen Inline-System die herstellereigene, industrieerprobte MIPS Software Plattform mit Schnittstellen zu allen MIPS-Modulen für die Programmierung, Klassifizierung und Verifikation. Zu den Anwendungsgebieten der Inline-CT gehören u.a. die zerstörungsfreie Prüfung, die klassische Fehlerprüfung aber auch das Vermessen von Formen und Strukturen (Wandstärke oder Abstände). Die Querschnittstechnologie mit hervorragendem Preis-/Leistungsverhältnis findet branchenübergreifende Anwendung in vielen Industriebereichen.

Mit zum Portfolio des Unternehmens gehört auch ein umfassendes Dienstleistungsangebot unterschiedlichster Inspektions- und Prüfaufgaben für X-Ray und Computertomografie. Das global aufgestellte Unternehmen hat sein Democenter in Feldkirchen bei München umfangreich ausgebaut und signifikante Investitionen im Gerätebereich realisiert. Kunden können hier auf die jahrzehntelange AXI-Erfahrung und ein breites Spektrum an Dienstleistungen zurückgreifen: Röntgen-Analyse im Durchstrahl- und CT-Verfahren bis zu hochauflösender 1 Micron Technologie und Hochleistungs-Röntgen bis 450 kV.