Wareneingangsprüfung zur Qualitätssicherung und Kostensenkung

Nippon wird international als Material-Lieferant mit einem Anteil von 15 bis 30 % eingeschätzt, in Teilbereichen der Halbleiterfertigung noch höher. Schon vor dem Fiasko in Japan waren diverse Bauteile auf Allocation, also erst in 14 und mehr Wochen wieder lieferbar, nun ist weltweit mit einer weiteren Verschärfung der Lieferzeiten zu rechnen. Und wie immer in solchen Situationen der Verknappung blüht auch das Geschäft der Fälscher und jener, die Bauteile entweder bereits defekt, mit Vorschäden, falschen Spezifikationen oder sogar einfach nur leere Gehäuse liefern. Jedes Bauteil, das nicht den Spezifikationen entspricht, vorgeschädigt oder defekt ist, und in diesem Stadium der beginnenden Baugruppenfertigung sicher erkannt und aussortiert wird, belastet nicht die nachfolgende Fertigungskette. So hilft also eine vernünftig eingesetzte Wareneingangssprüfung (WEP), die Kosten von Fertigung, Reparatur sowie späterer Garantieleistung mit Service zu senken.

Genau hier setzt eine wesentliche Anwendung der Qmax-Systeme V250/V2200 an, die Startup Testerspezialist ATEip exklusiv im Programm hat. Diese Testsysteme zielen zwar ursprünglich auf die heutigen komplexen gemischt bestückten und komplexen Mixed-Signal Baugruppen, die neben herkömmlichen Komponenten auch mit PLDs, FPGAs, DSPs und Single-Chip-Mikrocontrollern bestückt sind. Doch weil es für diese Bausteine eine riesige Bibliothek von derzeit circa 34.000 unterschiedlichen IC-Modellen gibt, ist ihr Einsatz per IC-Clip bzw. anderer Kontaktierung wie IC-Handler auf ideale Weise auch für die effiziente und kostengünstige Wareneingangsprüfung geeignet. Das System V250 kann bis maximal 256 vollhybride Pins ausgebaut werden. Beide Systeme unterstützen den Boundary-Scan-Test. Über verschiedene Optionen, zum Beispiel Messung der Flankensteilheit digitaler Signale, kann man die einfach anwendbaren Desktop-Systeme flexibel erweitern. System V2200 ist eine kompakte Midrange-Version mit höheren Ausbauoptionen. Beide arbeiten prinzipiell mit der gleichen Systemsoftware. Das Einstiegsmodell kann mit seiner Basis-Timingeinheit (40 ns) Testpattern bis maximal 25 MHz erzeugen und anlegen. Die Grundversion enthält bereits eine 64-Pinelektronik bzw. Kanäle. Der mit mehr Optionen weiter ausbaufähige Tester V2200 ist ebenfalls ein sehr kompaktes System, dessen Basiskonfiguration 48 High-Current-Pins umfasst und bei Bedarf bis 320/320 analog/digitale Kanäle ausgebaut werden kann.

Eine zentrale Rolle in den Testern hat natürlich die Software. Das Programmpaket TestDirektor6 mit Interactive Workstation zeichnet sich durch eine ganze Reihe von Funktionen und Programmmodule aus, die sowohl die Erzeugung, Debugging als auch die Anwendung des Systems hilfreich unterstützen, inklusive Datenformat-Support. Dazu gehört beispielsweise auch der Test-Sequenzer mit dem sich auf externe Ereignisse synchronisieren lässt und somit die Prüfung von komplexen Mikroprozessoren unterstützt wird. Die Software unterstützt natürlich auch die Optionen Boundary Scan und Bus-Cycle-Signature-System.