Zur Untersuchung übergroßer Leiterplattenformate hat Phoenix X-Ray das Röntgen-Inspektionssystem ML Inspector XXL mit einer Durchlichtflä-che von 1400 x 650 mm² auf den Markt gebracht. Das Ge-rät gibt es wahlweise mit 80 oder 100 kV Röntgenröhre, womit eine Detailerkennbarkeit von 3 bzw. 4 µm erreicht wird. Das System eignet sich nach Herstellerangaben besonders, um Restringbreiten zu bestimmen und Microvias zu inspizieren. Mit der Autopositionierung lassen sich auch größere Stückzahlen untersuchen.
EPP 210
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Applikationen aus dem Bereich der Leistungselektronik gewinnen immer mehr an Bedeutung. Die Inspektion dieser Applikation lässt sich mit der bewährten Standardtechnologie der 3D-Messtechnik bewerkstelligen.
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