Agilent Technologies präsentiert sein AOI-System Medalist SJ50 Serie 3 für automatische optische Inspektion, das sich durch eine Imaging-Kette und leistungsstarke Inspektionsalgorithmen auszeichnet. Das System erweitert die Produktlinie SJ50 und bietet mehr Benutzerfreundlichkeit, höheren Durchsatz, verbesserte Bauteilplatzierung, einfacheren Support sowie Erleichterung bei der Arbeit mit Technologien wie 01005-Bauteilen. Neben unter anderem einer schnelleren Marktreife der Produkte ermöglicht es mit seinen Algorithmen, die Bildschärfe bei kontrastarmen Bauteilen zu verbessern und so dem Endnutzer die Defektanalyse zu erleichtern. Höhere Imaging-Qualität senkt die Häufigkeit eines Fehlalarms und verbessert die Defekterkennung. Die Benutzer- und Systemoberfläche sind ergonomisch ausgereift. Das System kann in verschiedenen Umgebungen wie 2D-Lotpasten-, Pre-Reflow-, Mixed-Mode- und Post-Reflow-Inspektion eingesetzt werden. Der optische Messkopf kann schnell auf 3D-Lötpasteninspektion umgestellt werden, wodurch das System an einer Vielzahl von Stellen in einer Fertigungsstraße verwendet werden kann. Methoden wie Solid Shape Modeling liefern 3D-Bilder mit hoher Auflösung. Die nahtlose Anbindung an Downstream-Reparaturstationen und statistische Prozesssteuerungstools ermöglicht eine bessere Kontrolle über gesammelte Daten.
electronica, Stand A1.606
EPP 453
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Applikationen aus dem Bereich der Leistungselektronik gewinnen immer mehr an Bedeutung. Die Inspektion dieser Applikation lässt sich mit der bewährten Standardtechnologie der 3D-Messtechnik bewerkstelligen.
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