Die voll integrierte Lösung TestWay Express von Aster Technologies ermöglicht es Elektronik-Herstellern, ihre Prozesskette vom Design bis zum Versand zu optimieren, indem die Produktionslinie definiert wird, einschließlich einer Kombination von Bestückungs-, Inspektions- und Testmaschinen sowie die Testnadeln intelligent so gesetzt werden, dass die Testabdeckung maximiert wird sowie die Adapterkosten minimiert werden. Dies gilt für das Ausgangsdesign und bei Änderungen. Des Weiteren wird die Testabdeckung für jede einzelne Strategie anhand theoretischer Modelle abgeschätzt und die kombinierten Ergebnisse optimiert. Die Eingangsdaten-Dateien für jede Teststufe werden generiert, die die Testmöglichkeiten für die gewählte Strategie berücksichtigt. Die tatsächliche Testabdeckung wird gemessen. Dazu werden Post-Debug Testprogramme oder Coverage-Daten importiert. Die anfängliche Abschätzung mit der tatsächlich gemessenen Abdeckung des Testprogramms wird verglichen und so Lücken der Gesamt-Teststrategie aufgedeckt. Die Fähigkeit, schlanke Testprogramme generieren zu können, bietet insbesondere bei den Takaya-Flying-Prober-Testsystemen große Vorteile:
- Verringerte Debugging-Zeit: Modelle zu Maschinenfähigkeiten, Algorithmen zur Generierung automatischer Tests, Methoden zur Auswahl optimaler Testnadelwinkel und ausgefeilte Schaltungsanalysen arbeiten zusammen, um die nach dem Datei-Output erforderliche Maschinen-Debuggingzeit zu reduzieren und damit die Verfügbarkeit zu erhöhen.
- Erhöhte Testabdeckung: Push-Through Technologie ermöglicht automatischen Test einfacher Cluster, um die Testabdeckung über Bauteile mit niedriger Impedanz zu erhöhen.
- Reduzierter Engineering-Aufwand: Automatische Bauteilmodellierung und intelligente Möglichkeitsbewertung kooperieren, um Engineeringzeit einzusparen.
- Erhöhte Maschinengeschwindigkeit: Ausgefeilte Algorithmen zur Schaltungsanalyse ermöglichen die Generierung von Tests hoher Fehlermöglichkeitsabdeckung ohne überflüssige Testschritte.
- Verminderte Maschinenbelastung: Leistungsfähige Testabdeckungs-Analysatoren arbeiten auf Basis der Modelle der Maschinenfähigkeiten und ermöglichen dabei die Optimierung kombinierter Tests über mehrere Maschinen, um eine schlanke Teststrategie zu erreichen.
Das Unternehmen hat Ausgabeprozessoren für zahlreiche, in der Branche verbreitete Test-, Inspektions- und Bestückungsmaschinen entwickelt.
Electronica, Stand A1.352
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