Messung von elektrischen oder magnetischen Nahfeldern

Der IC-Scanner ICS 105 ermöglicht in Verbindung mit den Nahfeldmikrosonden vom Typ ICR Messungen von hochfrequenten Nahfeldern über integrierten Schaltkreisen (Set ICS 105 GND) und kleinen Baugruppen (Set ICS 105 UH). Die Analyse der Nahfelder eines ICs ermöglicht ein genaueres Verständnis der Vorgänge im IC bei hohen Frequenzen. Störaussendungsprobleme eines ICs werden mit den Messungen analysiert und Bereiche des ICs werden aufgefunden, die die Störaussendung verursachen.

Neben den ICR-Nahfeldmikrosonden der Langer EMV-Technik GmbH können mit Hilfe der Sondenhalterung SH 01 Handsonden oder Feldquellen in den Scanner eingesetzt werden. Je nach verwendeter ICR-Nahfeldmikrosonde wird das Magnetfeld oder elektrisches Feld in einem Bereich von (50x50x50) mm gemessen und mit der Software CS-Scanner im PC dargestellt. Zur genauen Bestimmung der Richtung des magnetischen Feldes kann die ICR-Nahfeldmikrosonde durch die Rotationsachse automatisch um 360° gedreht werden. Die genaue Positionierung der Nahfeldmikrosonden über dem Messobjekt wird durch ein Videomikroskop erleichtert. Durch die minimale Schrittweite von 10μm des Scanners erreicht die Messung eine sehr hohe Auflösung.

Die Nahfeldmikrosonden vom Typ ICR eignen sich für Messungen im Frequenzbereich von 1,5 MHz bis 6 GHz und erreichen eine Messauflösung von ca. 50 μm. Die Nahfeldmikrosonden für Magnetfeldmessungen sind in zwei verschiedenen Grundausführungen erhältlich. ICR HV Nahfeldmikrosonden sind mit einer vertikalen Messspule und ICR HH Nahfeldmikrosonden mit einer horizontalen Messspule ausgestattet. Der Sondenkopf der ICR E Nahfeldmikrosonde beinhaltet eine horizontale Elektrode zur Messung des elektrischen Felds. Die verschiedenen Typen der Nahfeldmikrosonden sind so gestaltet, dass für ein breites Spektrum von praktischen Messaufgaben die optimale Typauswahl getroffen werden kann.

Mit den Nahfeldmikrosonden können folgende Messungen durchgeführt werden:

Beim Messvorgang bewegen sie sich nur wenige µm über dem jeweiligen Messobjekt und ermöglichen eine exakte Erfassung der Nahfelder. Im Gehäuse der Nahfeldmikrosonden ist ein Vorverstärker integriert, der durch den Bias-Tee mit Strom versorgt wird. Der IC-Scanner wird über eine USB-Schnittstelle mit einem PC verbunden und durch die Software ChipScan-Scanner (CS-Scanner) gesteuert. Damit ist sowohl das Bewegen einer Nahfeldmikrosonde als auch die Programmierung komplexer Messabläufe möglich. Die vom Unternehmen entwickelte Software ermöglicht das Auslesen der Messdaten vom Spektrumanalysator, die graphische Darstellung (2D oder 3D) und die Speicherung und Ausgabe (CSV–Datei) der Messdaten. Die wichtigsten Einstellungen am Spektrumanalysator können ebenfalls über die Software vorgenommen werden.