Verigy stellt unter der Bezeichnung SmartRA eine Speicher-Redundanz-Analyse-Option für sein V6000 WS vor, ein skalierbares Wafer-Sort-Testsystem für Flash- und DRAM-Speicher. Mit SmartRA kann der Benutzer des Speichertesters Funktionen für Redundanz-Analysen erweitern, um den Durchsatz sowie die Ausbeute zu erhöhen. Die Lösung nutzt leistungsfähige Blade Server, weshalb Hersteller bei der Durchführung von Redundanz-Analysen die Verarbeitungsleistung ganz nach Bedarf und ohne Auswirkungen auf die Grundfläche des Testsystems erhöhen können. Da SmartRA auf einer offenen Software-Architektur basiert, lassen sich auch von Verigy bereit gestellte Algorithmen sowie Algorithmen aus eigener Entwicklung nutzen.
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