National Instruments stellte seine Datenverarbeitungs-Software NI DIAdem 9.0 vor, die dem Anwender ermöglicht, noch schneller und intuitiver auf Mess- und...
Archiv März 2004
Die beiden apochromatisch korrigierten Makroskope Leica Z6Apo mit 6fach-Zoom und Z16Apo mit 16fach-Zoom zeichnen sich durch hohe Vergrößerung bei großen...
Keithley Instruments hat zwei mehrkanalige Source-Measure-Testkarten als Erweiterung des Multi-Channel I-V Testsystems 4500 MTS vorgestellt. Das Testsystem...
Göpel hat die Verfügbarkeit einer neuen Familie von Boundary Scan I/O Accessoires, den „CION-Modulen“, bekannt gegeben, die auf dem Einsatz des...
Das Tiger-System von Feinfocus ist nun auch mit TXI Technologie für langzeitstabile Röntgenintensität und Bildqualität erhältlich. Während konventionelle...
Weiss GWE hat die Frontöffnung des Wibobarrier Reinraumsystems von 650 auf 1000 mm Höhe vergrößert, wodurch ein erweitertes Arbeitsfeld zur Verfügung...
MAT Micro Assembly Technologies stellt das System 6400 vor, ein vollautomatisches System, das mit einer Bestückgenauigkeit von +/-3 mm bei 3 Sigma arbeitet...
Lauffer ist Hersteller von Moldingsystemen zum Umhüllen von Bauelementen, Modulen und Baugruppen für Elektronikanwendungen. Der Gehäusespezialist berät in...
Vorbei sind die Zeiten, als sich Fertigungsgeräte in der Elektronik einfach so mir nichts dir nichts in einen Verbund einfügen ließen. Heute stellt nahezu...
Auf der Productronica 2003 in München war der Wandel deutlich zu spüren: Auch beim Testen wird immer mehr erwartet. Eine Konzentration auf nur eine...
